• 30種類以上のテストチャートで測定する機能を有しています。
• 効率的で信頼性の高い測定が可能ですので、非常に多くの導入実績があります。
• カメラからのダイレクト画像取得機能により、測定を簡略化します。
• 連続測定により、システム性能に関わる様々なパラメータのリアルタイム表示が可能です。
• SFRplus／eSFR ISOのテストチャートを使用することにより、様々な画像評価を一度に行えますのでチャートの交換時間を短縮します。
• 測定結果をCSV、JSON、XMLで出力することが可能です。

• 画像取得機能
  多くの画像取得用ハードウェアをサポートしています。
• Imatestデータベース
  便利なWebアプリケーションで数多くの測定結果を検索できます。
• Imatestテストマネージャー
  ユーザーが設定した測定シーケンスを整理します。
• Imatestレポート
  効率的にデータを分析し、測定レポートを出力します。
• カスタムチャートに対応
  ユーザーが独自に設計したカスタムチャートでの画像評価が可能です。
• 画像統計ビューア
  垂直・水平断面、短形形領域解析、ヒストグラム、フーリエスペクトル、点間の距離、およびEXIFデ―タ等の画像統計を表示します。
• マルチウェッジプロット
  eSFR ISOテストチャートのマルチウェッジプロットから全てのウェッジ測定結果を表示します。
• 画像処理モジュール
  シグナルプロセッシング前後の画像を切り替えることで、プロセッシングの効果を即座に観察できます。
• SFRregセンターチャート
  超広角カメラの中心視野近くのMTF測定、トーン応答、ノイズおよびカラー測定を行います。

• SFRplus
  SFRplus専用テストチャートを使用して、多くの画質ファクターを測定します。
• SFR
  ISO-12233テストチャートの傾斜エッジ部を分析します。
• Rescharts
  インタラクティブなインターフェイスで解像度テストチャート(ウェッジ、ランダム、スター)の分析が可能です。
• Multicharts
  グリッドと放射状のパッチリングで構成されたテストチャートで色とトーンの分析が可能です。
• Even Field
  センサーの傷や欠陥ピクセルの検出、及び、色と照明の均一性測定が可能です。
• Dot Pattern
  単純なグリッドの点を使用して歪みと色収差のテストが可能です。

センサー評価ボード

• OnSemi
• オムニビジョン
• 東芝
• STマイクロエレクトロニクス
• グラフインEasyLab

• アンドロイド
• DirectShow
• クイックタイム
• アナログ
• カメラリンク
• ギガビットイーサネットビジョン
• DCAM IEEE 1394b
• Blackmagic Design

• Adimec (アディメック)
• Allied Vision Tec (アライド ビジョン テック)
• FLIR (フリアー)
• 浜松ホトニクス
• 日立
• Matrox Imaging (マトリックス イメージング)
• Micrsoft Kinect (マイクロソフト社キネクト)
• National Instruments (ナショナルインスツルメンツ)
• ソニー
• 東芝テリー
• GEViCAM (ゲビカム)
• Imperx (インプレックス)
• Lumenera (ルメネラ)
• Matrix Vision (マトリックス ビジョン)
• Teledyne DALSA (ダルサ)
• QImaging (Qイメージング)
• VRmagic (VRマジック)
• XIMEA (キシメア)